一、產(chǎn)品介紹

ICP-OES MICS系列全譜直讀型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀，利用性能可靠的集成固態(tài)射頻電源、穩(wěn)固的恒溫二維分光系統(tǒng)、科研級制冷防溢出CCD檢測系統(tǒng)，結(jié)合的光譜校正技術(shù)，將ICP OES MICS的操作性、靈活性和可靠性發(fā)揮的超乎想象，日常操作和維護非常簡單，更適合分析實驗的操作要求，實現(xiàn)小型化（Miniatorization）、便捷化(Intelligentize）、智能化（ Convenience)的光譜儀（ Spec仕ometer ）。

ICP-OES MICS系列全譜直讀型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀，可廣泛應(yīng)用于

環(huán)境保護、食品安全、地質(zhì)礦產(chǎn)、冶金、高色金屬、稀土、化工、｜｜伍床醫(yī)藥、石油制昂、半導體、農(nóng)業(yè)研究等各個領(lǐng)域。用于測定不同物質(zhì)中的常量、微量、瘦量元素含量，可用于樣目中元素的定性、半定量及精確定量分析，檢出限可達十億分之一級。

二、性能指標

檢測器：

高效半導體制冷的CCD固體檢測器，在光譜儀波長范圍內(nèi)具有連續(xù)像素，能任意選擇波長，且具有天然的防溢出功能設(shè)計。

檢測單元：大于3,000,000個檢測單元，讀取速度≥2MHz。

像素分辨率：≤0.003nm。

檢測器制冷系統(tǒng)：為獲得的檢測器暗電流，采用高效三級半導體制冷。

工作溫度：≤-45℃，到達工作溫度的時間：< 3 分鐘。

光學系統(tǒng)：恒溫驅(qū)氣型中階梯分光系統(tǒng)。

單色器：中階梯光柵和棱鏡二維色散系統(tǒng)，高能量，為保證儀器測試的穩(wěn)定性，光柵和棱鏡等內(nèi)光路部件位置固定不動，在光譜儀全波長范圍內(nèi)一次曝光同時測定所有元素。

光室：帶精密光室恒溫38℃±0.1℃，可使用氬氣或氮氣進行光室吹掃，測定<200nm譜線時驅(qū)氣量<3L/min。

波長范圍：167-1000nm，全波長覆蓋。

光學分辨率（FHW）：As189.042nm半峰寬<0.007nm，Ca393.366nm半峰寬<0.017nm，Ba614.172半峰寬<0.024nm, K766.490nm半峰寬<0.035nm為保證光學系統(tǒng)的穩(wěn)定性和最佳的光通量，焦距為280mm。

等離子體：

等離子體觀察方式：炬管垂直放置

RF發(fā)生器：固態(tài)發(fā)生器，等離子體線圈具有聚四氟乙烯保護層設(shè)計，防腐蝕，免維護。

頻率：27.12MHZ。

RF功率≥1300W。

氣路控制：配置3路高精度質(zhì)量流量控制器，由ICP-OES軟件直接控制，包括冷卻氣、輔助氣、霧化氣。精度0.01 L/min。

蠕動泵：5通道16滾輪蠕動泵。

分析性能：

分析速度：≥每分鐘50個元素或譜線，而且每條測量譜線的積分時間≥10秒；

樣品消耗量：<2ml，測定大于70個元素；

譜線靈活性：可對分析元素的任何一條譜線進行定性、半定量和定量分析，便于分析研究。

測定譜線的線性動態(tài)范圍：≥106（以Mn257.6nm 來測定，相關(guān)系數(shù)≥0.9996），提供證明材料。

內(nèi)標校正：同時的內(nèi)標校正，即內(nèi)標元素和測量元素必須同時曝光。

精密度：測定1ppm或10ppm多元素混合標準溶液，重復測定十次的RSD≤0.5%。

穩(wěn)定性：測定1ppm或10ppm多元素混合標準溶液，不使用內(nèi)標校正，連續(xù)測定4小時的長時間穩(wěn)定性RSD＜1.0%。