點(diǎn)接觸式測厚儀產(chǎn)品關(guān)鍵詞：金屬測厚儀、薄膜測厚儀、紙張測厚儀、渦流測厚儀、非接觸測厚儀、射線測厚儀、金屬薄片手持式測厚儀、實(shí)驗(yàn)室測厚儀、紙張厚度測試儀、塑料包裝材料測厚儀涂層測厚儀可大致分為：器測量出從安裝支架到物體表面的距離油漆測厚儀確保兩個(gè)傳感器的激光能對在同一點(diǎn)上

1.1     產(chǎn)品特點(diǎn)     

1：高精度測量，顯示精度可達(dá)0.001mm。

2：智能語音播報(bào)，配合LED背光顯示，可在各種光線環(huán)境下使用。

3：支持藍(lán)牙數(shù)據(jù)傳輸，可進(jìn)行藍(lán)牙打印。

4：鋰電池供電，USB充電。

1.2    基本原理

      超聲波測量厚度的原理與光波測量原理相似，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭通過精確測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。

1.3    適用范圍

本測厚儀采用脈沖反射超聲波測量原理，適用于超聲波能以一恒定速度在其內(nèi)部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測量。此儀器可對各種板材和各種加工零件作精確測量?？蓮V泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船等各個(gè)領(lǐng)域。

1.4    主要技術(shù)參數(shù)：

附表1  各種材料的聲速比

X射線測厚儀X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性渦流測厚儀主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.錫膏測厚儀激光測厚儀鋼板測厚儀

1.設(shè)備簡介
中文名稱：測厚儀
英文名稱：thickness Tester
產(chǎn)品關(guān)鍵詞：金屬測厚儀、薄膜測厚儀、紙張測厚儀、渦流測厚儀、非接觸測厚儀、射線測厚儀、金屬薄片手持式測厚儀、實(shí)驗(yàn)室測厚儀、紙張厚度測試儀、塑料包裝材料測厚儀
設(shè)備用途：測厚儀（thickness gauge ）是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。

測厚儀圖冊（4張）

2.涂層測厚儀的使用方法
使用涂層測厚儀時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定：
a基體金屬特性對于磁性方法，規(guī)范片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法，規(guī)范片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
b基體金屬厚度檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
c邊緣效應(yīng)不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測量。
d曲率不應(yīng)在試件的彎曲外表上測量。
e讀數(shù)次數(shù)通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必需在每一測量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。
覆蓋層厚度的局部差別，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量，外表粗造時(shí)更應(yīng)如此。
f外表清潔度丈量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

3.注意事項(xiàng)
測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。
測量注意事項(xiàng)：
⒈在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時(shí)要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因?yàn)橐话愕臏y厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。